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アイセム

半導体関連

  

薄膜分析でお困りの方、一度ご相談ください。

超低加速・超高分解能FE-SEMと高周波グロー放電スパッタを用いた新規サンプル表面前処理法の普及により、”真に産業に貢献できる電子顕微鏡の新たな世界”を確立する。

超低加速・超高分解能FE-SEMと試料前処理法に関する啓蒙活動。超ミクロトームを用いた断面試料作製。高周波グロー放電発光分光法による薄膜分析。


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